イオン化部、インターフェイスの汚染やつまりをできる限り抑えるためには日常的な装置管理が重要となります。以下に使用後の装置管理・保守について説明します。
1. ESI プローブ内にはサンプルが残存しないようにする
分析後はサンプル、及び、グラジェントによる溶出物がESI プローブ内の「ESI ノズル」、「ESI PEEK チューブ」、「ESI キャピラリAssy」内に残存している可能性があります。残存している状況で放置していると、液体が乾燥することで、各部で析出、つまりの要因となったり、ESI スプレー状態が悪化することにつながります。
2. DL プラグの使用によるMS 内部の汚染の防止
日常停止時は必ず、DL プラグを挿入し、DL、レンズ系に雰囲気ガスが流入しないようします。DL が解放状態では、MS内部が高真空であるため、DL周辺の雰囲気ガスを常時吸い込んでしまいます。周辺にオイルミストや廃液からのガスが存在しているとDLやレンズ系の汚染につながります。
DLプラグの部品番号
LCMS-8060: 部品番号: 225-27950 PULG3,DL
LCMS-8050: 部品番号: 225-25691 PLUG2 DL
LCMS-2020, 8030/40/45: 部品番号: 225-27984 PLUG4,DL
LCMS-2050: 部品番号: 225-40574 DL PLUG