蛍光X線による膜厚分析で、元素ごとにどこまでの厚さが分析可能でしょうか?
膜厚が薄い領域では、膜厚が増えると、蛍光X線の強度は増加します。 膜厚が厚くなるに従い、X線強度の増加は徐々に緩やかになり、最終的には強度が飽和して、⾦属の塊を測定した時の強度と同じになります。
下図では飽和蛍光X線強度の90%未満を膜厚測定可能範囲としています。(理論シミュレーション)