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閲覧の多いFAQ

『 元素分析 』 内のFAQ

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  • (EDX) RoHSスクリーニング分析で添加剤の多い樹脂がAl,Si判定になる

    無機添加剤の多い樹脂で、無機成分が重量比50%以上を占めると、重量比が高い元素に対する分析条件が 使用されます。EDX-7200の場合は、ScreeningPlastic条件を使用して分析してください。 他の機種の場合、樹脂材質を指定して分析するには、以下の例のように樹脂専用の条件を作成してください。 [ス... 詳細表示

  • (EDX) 試料容器の組立方法

    <構成部品> ①スナップリング(リング大)×2 ②カラー(リング小)×1 *①②のリング径は上下で大きさが異なります。取り付ける際は、口径の大きい方からはめ込みます。 ③胴体×1 <組み立て方法> ③胴体のリング状の突起がある方を下にしておきます。 フィルムを上からセットします。 ... 詳細表示

  • (EDX) PCEDX起動時にエラーが表示される

    PCEDX-Navi画面の分析結果一覧のリストには最大2500件表示されますが、2500件を超えて分析した場合、測定結果履歴ファイル(history.db)が自動バックアップされます。バックアップに失敗した場合、このメッセージが表示されます。(測定結果や分析には影響ありません。) <処置> 以下の手順で、c:... 詳細表示

  • (NDI/蛍光X線/X線回折) 安衛則や電離則等の改正について

    「労働安全衛生規則(安衛則)」、「電離放射線障害防止規則(電離則)」と「透過写真撮影業務特別教育規程」が改正され、令和7年10月29日(一部規定は令和8年4月1日または令和9年10月1日)から順次施行されます。 改正の内容や対象のモデルなどの詳細は以下のページをご参照ください。  ☞ 労働安全衛生規則と電離放... 詳細表示

  • (ICPE) ヨウ素を分析する際の注意点

    ◆ヨウ素の定量分析に関する注意点 ヨウ素は、硝酸などの酸化性の酸によりガス状態(I2)になりやすくなり、測定値が不安定になるため、検量線試料および測定試料は純水で調製してください。 また、ドレンも純水に置き換え、酸が添加されている試料の分析とは分けて測定してください。 ※酸性になると、遊離して気化したヨウ素... 詳細表示

    • No:12364
    • 公開日時:2026/07/16 14:45
    • 更新日時:2026/07/16 15:43
    • カテゴリー: マルチ型(ICPE)
  • (ICPE) プロファイルに表示される "Best" の意味

    プロファイル上の "Best" 表示は、ソフトウェアの自動波長選択機能※で選ばれた最適波長を意味します。 ※) 自動波長選択機能は、感度が良く干渉の少ない分析波長の選択をアシストする機能です。 登録されている分析波長のうち、SB比やマトリックスによるスペクトル干渉の有無、オーバーフローの有無等を総合的に判定し... 詳細表示

  • (ICPE) 検量線の確認方法

    以下の点を確認してください。 検量線の直線性を確認 相関係数を確認し、r > 0.999以上(要求される測定精度による)であることを確認してください。 検出下限・定量下限を確認 測定元素の要求下限を満たす検出下限・定量下限※であるかを確認してください。 ※) ソフトウェアで検出下限・定量下限を... 詳細表示

  • (ICPE) ウォーターバブラについて

    塩濃度が高い試料(目安として0.1%以上)を分析する場合には、高塩試料用の導入系が必要となります。ウォーターバブラは、高塩試料用導入系の構成品の一つです。 高塩試料用導入系の構成例: ・トーチ、 高塩用(P/N 204-74323) ・オリフィス S2 ASSY(P/N 211-88571-42) ・ウォ... 詳細表示

    • No:12353
    • 公開日時:2026/07/16 13:19
    • カテゴリー: マルチ型(ICPE)
    • ウィザードFAQ
  • (ICPE) 沈殿物を含む試料をICPに導入するには

    沈殿物を含む試料をICPに導入すると、導入系で詰まりが生じてしまい、測定ができません。沈殿物を取り除いてからICPに導入してください。 沈殿物を取り除く方法として、静置や遠心分離を行い、ペーパーフィルターやシリンジフィルターでろ過をするなどの前処理を行ってください。 フィルターの目の粗さについては、JIS P... 詳細表示

    • No:12350
    • 公開日時:2026/07/16 12:59
    • 更新日時:2026/07/16 13:00
    • カテゴリー: マルチ型(ICPE)
  • (EDX) めっき試料の膜厚上限

    膜厚が薄い領域では、膜厚が増えると、蛍光X線の強度は増加します。 膜厚が厚くなるに従い、X線強度の増加は徐々に緩やかになり、最終的には強度が飽和して、⾦属の塊を測定した時の強度と同じになります。 下図では飽和蛍光X線強度の90%未満を膜厚測定可能範囲としています。(理論シミュレーション) 詳細表示

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