よくあるご質問（FAQ）

検出下限値は、下記の＜検出下限値まとめ＞をご確認ください。
なお、材質によりX線の出方が異なるため、検出下限値は異なります.（元素間の吸収励起）。
また、ご使用の機種によっても感度が異なるため変わってきます。

 

＜検出下限値まとめ＞

 

＜検出下限値算出方法＞

検量線作成後、0ppm（もしくは0ppmに近い）の試料を単純10回繰り返し測定を行い、その標準偏差の3倍（3σ）を計算する。

 

0ppmにおけるX線強度（散乱X線：BG）の統計変動（理論標準偏差）を計算し、その3倍した値を含有量に変換する。
L.L.D＝ 3×b×{BG/(μA×T)}1/2
　　   b：検量線傾き（%/(cps/μA)）
　　 BG：0ppmの散乱X線強度（cps/μA）
　　 μA：電流値（μA）
　　　T：積分時間（sec）

 

 

形状補正が入っている測定条件においては、注意が必要！！
　　検量線の縦軸をご確認ください。
　　縦軸 「測定強度(cps/μA)」：形状補正なし

　　　　 「測定強度比」：形状補正あり