よくあるご質問（FAQ）

(EDX) 定量分析でマイナスの定量値表示

0ppmにおいて、X線強度のばらつきが、平均強度以下の場合にマイナスの値となります。 マイナスの値は、N.D. （検出下限以下）として扱います。 詳細表示

(EDX) めっき膜厚測定(複数層)

・どの層から発生した蛍光X線かを特定することはできないため、すべての層が未知の場合は、分析できません。 ・未知層は1つ、残りの層は既知（膜厚・組成とも）の場合は、既知層を固定値入力することで、分析できる可能性があります。 詳細表示

(EDX) めっき膜厚測定の厚さ

元素によって、分析（脱出）深さが異なるため、一概に申し上げにくいところもありますが、目安としては、 ・厚膜：数μm～数十μm ・薄膜：0.数nm～数nm 詳細表示

(EDX) ピークは検出されるが、点線ばかりで元素が同定されない

プロファイルより、全体的にエネルギー軸がずれています。装置校正を行ってください。 詳細表示

(EDX) 標準試料分析で、標準値から大きくずれた

ドリフト補正（強度補正）は行っていますか？ 数年前の検量線を使用している場合は、検量線の再作成をお勧めしますが、ドリフト（強度）補正を行ってください。 詳細表示

(EDX) EDXで、PBBやPBDEの判別は可能ですか？

・EDXで化合物の判別はできません。総Br量としてスクリーニング分析します。 ・総Br量でNGとなった試料は化合物を判別するために、別の装置で分析を行います。(例)Py-GC/MS法など PBBとPBDE PBB： ポリ臭化ビフェニル: C12H(10−n)Brn (1≦n≦10) PBDE：ポリ臭化... 詳細表示

(EDX) 定量プロファイルのKaとKbの意味

スペクトル線の名前です。1つの元素から複数種が発生します。 装置の表記:一般的な表記(シーグハーン表記) FeKa: FeKα FeKb: FeKβ FeLa: FeLα FeLb1: FeLβ1 詳細表示

(EDX) 樹脂膜中のセラミックス板試料分析

反対面の樹脂部まで、分析できていません。 （1）セラミックスが間に入るため、反対面の樹脂からのX線強度は大幅に減衰することから、正確な分析はできません。 反対面の樹脂からどの程度の蛍光X線が検出されるかは理論強度計算から知ることができます。 （2）RoHS分析について、層構造になった試料を分析した場... 詳細表示

(EDX) マイラーフィルムとMg分析

・マイラーフィルムを使用するとMgの強度は著しく低下します。 ・ポリプロピレンフィルムを使用するか、加圧成型したブリケットを分析して下さい。 詳細表示

(EDX) 粉末試料の厚み

微量用試料容器（P/N 219-85000-54）を使用してください。 試料の量は底面から5mm以上あれば十分な厚さです。5mm以下の場合は、薄膜FP法で定量計算してください。 詳細表示