よくあるご質問(FAQ)
キーワード検索
閲覧の多いFAQ
『 元素分析 』 内のFAQ
-
定量下限・検出限界は、検量線ブランク試料の強度の標準偏差(σBL)を濃度換算し、それぞれ10倍(10σ)、3倍(3σ)した数値です。通常、検量線ブランク試料を多回連続測定し(例:連続10回、n=10)、このときの強度の標準偏差から算出します。 検出限界 = 3×σBL/k (σBL:ブランク試料の標準偏差、k:... 詳細表示
- No:12091
- 公開日時:2026/02/16 15:17
- 更新日時:2026/02/16 15:20
- カテゴリー: マルチ型(ICPE)
-
サンプルや測定元素によって異なりますが、数ppm~数%まで測定が可能です。 各元素の定量下限~定量上限の濃度範囲がICPにおける定量範囲となります。 測定の上限については、低感度の横方向観測を使用した場合、%近くまで測定可能な元素もあります。ただし市販の標準液は1000 ppmや10000 ppmのものが多く、... 詳細表示
- No:12089
- 公開日時:2026/02/16 14:56
- 更新日時:2026/03/27 15:47
- カテゴリー: マルチ型(ICPE)
-
アルカリ洗剤やアンモニア水など、pH10程度の弱アルカリ性の試料は導入可能です。ただし、中性や酸性の試料と比較するとガラスの劣化が早まる恐れがあるため、測定後は、純水をしばらく流し、ネブライザー内にアルカリ性の液が残らないよう置換することを推奨します。 NaOHやKOHなどの強アルカリの試料は、導入すると試料導... 詳細表示
- No:12076
- 公開日時:2026/02/13 16:16
- 更新日時:2026/03/13 14:02
- カテゴリー: マルチ型(ICPE)
-
通常の導入系(ミニトーチ、オリフィスL2)で導入可能です。 高塩試料用の導入系が必要です。 下記導入系で導入可能な塩の最大濃度の目安は、5%~10%です。(塩の種類や連続して測定するサンプル数、測定条件、冷却ジャケットの有無により異なります。) トーチ, 高塩用:P/N S204-74323 オリフ... 詳細表示
- No:12075
- 公開日時:2026/02/13 16:07
- カテゴリー: マルチ型(ICPE)
- ウィザードFAQ
-
分析波長や干渉のピークにBGポイントが重ならないように注意してください。 下図に、誤ったBGポイントの設定例を示します。左側のBGポイントが干渉のピークに重なっており、正しく補正できていません。 誤ったBG補正の例 干渉がないかプロファイルを拡大して確認し、下図のように赤い点線がBG位置として適切か判断... 詳細表示
- No:12073
- 公開日時:2026/02/13 15:20
- カテゴリー: マルチ型(ICPE)
- ウィザードFAQ
-
試料中のマトリックス濃度が高い場合、物理干渉(試料の粘性や比重の違いによる、プラズマへの試料導入効率の変化)やイオン化干渉(マトリクス元素濃度の違いによるイオン化効率の変化)など、非スペクトル干渉が生じる可能性があります。 非スペクトル干渉が確認された場合は、内標準補正を用いることにより、これらの干渉を補正・低... 詳細表示
- No:11980
- 公開日時:2026/01/22 12:01
- カテゴリー: マルチ型(ICPE)
- ウィザードFAQ
-
元素の種類によって安定な酸が異なります。 元素 推奨される液性 Ag 硝酸 (ただしAgが0.1ppm以下など微量の場合、塩酸を過剰に添加することで錯体を形成するため安定することがある) Sn(濃度が高いとき) 塩酸 Si(濃度が高いとき) 酸化物を生成するので中性を推奨 Os... 詳細表示
- No:11975
- 公開日時:2026/01/22 11:21
- 更新日時:2026/03/13 13:49
- カテゴリー: マルチ型(ICPE)
-
ガラスウェア取り外し編 ガラスウェア取り付け編 ガラスウェア洗浄編 サンプリングコーンとスキマーコーン取り外し編 サンプリングコーンとスキマーコーン取り付け編 サンプリングコーンとスキマーコーン洗浄手順(軽微な汚れ) サンプリングコーンとスキマーコーンの洗浄手順(通常洗浄) 詳細表示
- No:11577
- 公開日時:2025/01/29 10:42
- 更新日時:2025/01/30 09:34
- カテゴリー: ICP質量分析計(ICP-MS)
-
<試料容器の使い分け> <試料容器の紹介> <フィルムの紹介> 詳細表示
- No:10286
- 公開日時:2024/06/28 09:54
- カテゴリー: エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX)
-
SUMピークを減少させるには、DT(デッドタイム)値を小さくして測定することが有効です。 * DT:信号処理を行うために、検出器が信号の取り込みを休止している時間。 DTと信号取り込み量(X線強度)は、比例する。 詳細表示
- No:10285
- 公開日時:2024/06/27 15:21
- カテゴリー: エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX)
165件中 11 - 20 件を表示