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元素分析

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『 元素分析 』 内のFAQ

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  • (ICPE) 積分区間の設定方法

    積分範囲はピーク全範囲を含む必要はありません。通常ピークトップをはさむように、2~3ピクセルで積分区間を設定します。 積分区間の幅が大きいと、ピークトップから離れた裾部分を取り込んで計算することとなり、SB比（信号とバックグラウンドの強度比）が低下します。 当社製品の分光器は、半値幅が2.4~2.8ピクセルと... 詳細表示

    • No：12171
    • 公開日時：2026/03/03 08:58
    • 更新日時：2026/03/27 15:48
    • カテゴリー： マルチ型(ICPE)

  • (ICPE) 分析結果に "L" や "H" が表示される

    < H 表示> 定量分析で、定量値が検量線試料設定濃度の上限をオーバーした時に表示されます。 < L 表示 > 定量分析で、その値の信頼度が低い場合に表示されます。 信頼度は、各測定元素・波長のプロファイルから当社独自の方法で算出します。（検量線試料と実試料のBGレベルのずれ（... 詳細表示

    • No：12172
    • 公開日時：2026/03/03 10:17
    • 更新日時：2026/04/02 09:34
    • カテゴリー： マルチ型(ICPE)

  • (ICPE) RSD(CV)が大きい、測定がばらつく

    ブランク試料で、ばらつきがない場合（バックグラウンド補正を行っている場合） 分析対象元素を含まないブランク試料は、強度がばらついてRSDが大きくなることが多いです。 ばらつかない場合は、ブランク試料が汚染し、測定元素のピークが検出されている可能性があります。 Arなどのスペクトルが検出されている場合もあ... 詳細表示

    • No：12174
    • 公開日時：2026/03/03 15:03
    • カテゴリー： マルチ型(ICPE)
    • ウィザードFAQ

  • (ICPE) リンス時間の設定方法

    以下の条件で分析を行う場合、 AS-10を使用 ペリスタルティックポンプを使用しない 吸上げ管の長さ：40cm（以下の図中の赤線をご参照ください） 標準的なリンス時間の設定例は以下の通りです。 ソルベントリンス時間：30秒 サンプルリンス時間：30秒 吸い上げ管の長さなどを変更する場合な... 詳細表示

    • No：12178
    • 公開日時：2026/03/03 16:27
    • カテゴリー： マルチ型(ICPE)
    • ウィザードFAQ

  • (ICPE) 検量線の濃度範囲

    検量線の濃度範囲としてはBEC/20～BEC×100が目安となります。 ソフトウェアの [メソッド] メニューから [分析元素・波長登録] を選択し、分析タイプの「定量」を選択すると、各波長のBEC（バックグラウンド等価濃度）を確認できます。 定量したい濃度域に応じて波長を選択してください。また、複数... 詳細表示

    • No：12167
    • 公開日時：2026/03/05 09:48
    • 更新日時：2026/03/30 16:09
    • カテゴリー： マルチ型(ICPE)

  • (EDX) 分析データをCSVファイルに変換したい

    [環境設定] の [ファイル管理・変換] 機能から以下の手順で行います。 詳細表示

  • (EDX) データの格納先

    定性定量分析の場合データファイル（拡張子：datqlqn）：初期設定の格納フォルダ（c:\pcedx\user\datqlqn） 条件ファイル（拡張子：grpqlqn）　：初期設定の格納フォルダ（c:\pcedx\user\grpqlqn） 定量分析の場合データファイル（拡張子：datqn）：初期設定... 詳細表示

  • (EDX) エネルギー校正に失敗する

    通常どおりに波形は表示されるが、ピークが左右どちらかにシフトしている場合は、添付資料を参照して検出器のゲイン調整を行ってください。 それ以外の場合は、こちらのWebフォームからお問い合わせいただくか、当社営業所 / 代理店 / 当社指定のサービス会社にご連絡ください。 詳細表示

  • (ICPE) 計画停電時の処置

    ＜停電前＞ ソフトウェアから、真空ポンプを停止します。 真空ポンプのリーク弁（金色）を開けて真空ポンプ部を大気圧にします。 5秒前後で完了するので、リーク弁を再度閉めます。 ソフトウェアとPCをシャットダウンします。 ICPE本体左側面のメインブレーカーを切ります。（念のために分析室の配電盤SWも切りま... 詳細表示

    • No：12336
    • 公開日時：2026/07/14 10:20
    • 更新日時：2026/08/31 08:35
    • カテゴリー： マルチ型(ICPE)

  • (EDX) めっき試料の膜厚上限

    膜厚が薄い領域では、膜厚が増えると、蛍光X線の強度は増加します。 膜厚が厚くなるに従い、X線強度の増加は徐々に緩やかになり、最終的には強度が飽和して、⾦属の塊を測定した時の強度と同じになります。 下図では飽和蛍光X線強度の90%未満を膜厚測定可能範囲としています。（理論シミュレーション） 詳細表示

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