よくあるご質問（FAQ）

(EDX) はんだ中のPb測定

試料の偏析の影響が考えられます。 はんだはPbが表面に偏析することがあります。 EDX分析では試料表面の影響を強く受けるため、表面にPbが偏析している場合は⾼めに定量されます。 試料を急冷させて作成したり、表面を研磨することで、Pbの定量値が下がることがあります。 詳細表示

(EDX) ネジのめっき膜厚測定

めっき厚とX線強度には相関関係があるため、測定可能です。 定量計算方法は検量線法と薄膜FP法の2種類があります。 多層膜のめっき厚測定の場合、薄膜FP法の方が適しています。 めっき厚測定を⾏うには以下の2つの点を満たしている必要があります。 1) 試料の層の数、各層の元素情報が分かっている。 2) ... 詳細表示

(EDX) 高濃度Sn水溶液分析

⾼濃度のSn水溶液を蛍光X線で測定する場合、自己吸収という現象により、含有量が⾼くなっても蛍光X線の強度が上がりにくくなる場合があります。 その場合、水溶液の希釈や分析線の変更で対処します。 詳細表示

(EDX) 分析深さ

蛍光X線の分析深さは、試料の主成分、測定元素（分析線）によって変化します。 ・主成分が軽元素ほど深く、重元素ほど浅くなります。 ・測定元素が重元素（分析線が⾼エネルギー）ほど深く、軽元素（分析線が低エネルギー）ほど浅くなります。 試料内部の元素から発生した蛍光X線は、試料の中で吸収を受けながら試料外に放... 詳細表示

(EDX) 簡単分析における%の単位

簡単分析の結果にでてくる値はwt%です。 atom%の定量計算も可能です。 　定量モードでは分析グループで単位を指定することで分析前に設定できます。 　定性定量モードでは手動で計算してください。 atom%で定量する（定量モード） 　元素情報－単位でatom%を設定する 測定後のデータにつ... 詳細表示

(EDX) 磁石の分析

磁石の種類によって磁力が異なります。 強い磁気を帯びた試料は測定できません。 試料から7cm離れた場所で磁力が20ガウス以下の場合には測定可能です。 可能な場合は､他の試料と同様にRoHS分析条件で分析してください。 ただし、めっきが施されている試料の場合、めっきと磁石に分ける、または薄膜... 詳細表示

(EDX) Brを大量に含有する樹脂中のRoHS分析で、Hg検出

BrKαESCピークの影響で、Hgが検出されたと考えられます。 HgLα：9.99keV、BrKαESC：10.16keV EDXでは高強度のピークが観測されると、検出器由来のピーク(SUM、ESC)が観測され、そのピークが目的元素のピークを妨害する場合があります。 詳細表示

(EDX) PbLαとPbLβ1の定量値が大きくずれている

プロファイルを見てピークを確認してください。 ・PbLα(10.55keV)とPbLβ1(12.62keV)のピーク強度比を確認する。 PbLα：PbLβ1≒1：1 (通常) ・PbLα強度とPbLβ1強度が違う場合 妨害元素が含まれている可能性があります。 よくある例 PbLα＞PbLβ1：As(K... 詳細表示

(EDX) 定量分析でマイナスの定量値表示

0ppmにおいて、X線強度のばらつきが、平均強度以下の場合にマイナスの値となります。 マイナスの値は、N.D. （検出下限以下）として扱います。 詳細表示

(EDX) めっき膜厚測定(複数層)

・どの層から発生した蛍光X線かを特定することはできないため、すべての層が未知の場合は、分析できません。 ・未知層は1つ、残りの層は既知（膜厚・組成とも）の場合は、既知層を固定値入力することで、分析できる可能性があります。 詳細表示