よくあるご質問（FAQ）

(EDX) 簡単分析における%の単位

簡単分析の結果にでてくる値はwt%です。 atom%の定量計算も可能です。 　定量モードでは分析グループで単位を指定することで分析前に設定できます。 　定性定量モードでは、測定後にデータを再計算することでatom%の結果を得ることができます。 atom%で定量する（定量モード） 　元素情報－... 詳細表示

(EDX) 磁石の分析

磁石の種類によって磁力が異なります。 強い磁気を帯びた試料は測定できません。 試料から7cm離れた場所で磁力が20ガウス以下の場合には測定可能です。 可能な場合は､他の試料と同様にRoHS分析条件で分析してください。 ただし、めっきが施されている試料の場合、めっきと磁石に分ける、または薄膜... 詳細表示

(EDX) Brを大量に含有する樹脂中のRoHS分析で、Hg検出

BrKαESCピークの影響で、Hgが検出されたと考えられます。 HgLα：9.99keV、BrKαESC：10.16keV EDXでは高強度のピークが観測されると、検出器由来のピーク(SUM、ESC)が観測され、そのピークが目的元素のピークを妨害する場合があります。 詳細表示

(EDX) PbLαとPbLβ1の定量値が大きくずれている

プロファイルを見てピークを確認してください。 ・PbLα(10.55keV)とPbLβ1(12.62keV)のピーク強度比を確認する。 PbLα：PbLβ1≒1：1 (通常) ・PbLα強度とPbLβ1強度が違う場合 妨害元素が含まれている可能性があります。 よくある例 PbLα＞PbLβ1：As(K... 詳細表示

(EDX) 定量分析でマイナスの定量値表示

0ppmにおいて、X線強度のばらつきが、平均強度以下の場合にマイナスの値となります。 マイナスの値は、N.D. （検出下限以下）として扱います。 詳細表示

(EDX) めっき膜厚測定(複数層)

・どの層から発生した蛍光X線かを特定することはできないため、すべての層が未知の場合は、分析できません。 ・未知層は1つ、残りの層は既知（膜厚・組成とも）の場合は、既知層を固定値入力することで、分析できる可能性があります。 詳細表示

(EDX) めっき膜厚測定の厚さ

元素によって、分析（脱出）深さが異なるため、一概に申し上げにくいところもありますが、目安としては、 ・厚膜：数μm～数十μm ・薄膜：0.数nm～数nm 詳細表示

(EDX) ピークは検出されるが、点線ばかりで元素が同定されない

プロファイルより、全体的にエネルギー軸がずれています。装置校正を行ってください。 詳細表示

(EDX) 標準試料分析で、標準値から大きくずれた

ドリフト補正（強度補正）は行っていますか？ 数年前の検量線を使用している場合は、検量線の再作成をお勧めしますが、ドリフト（強度）補正を行ってください。 詳細表示

(EDX) EDXで、PBBやPBDEの判別は可能ですか？

・EDXで化合物の判別はできません。総Br量としてスクリーニング分析します。 ・総Br量でNGとなった試料は化合物を判別するために、別の装置で分析を行います。(例)Py-GC/MS法など PBBとPBDE PBB： ポリ臭化ビフェニル: C12H(10−n)Brn (1≦n≦10) PBDE：ポリ臭化... 詳細表示