よくあるご質問(FAQ)
キーワード検索
閲覧の多いFAQ
『 ICP質量分析計(ICP-MS) 』 内のFAQ
-
マトリクス濃度の小さい試料中では、一族元素(Li、Na、K など)、二族元素(Ca、Mg など)は、プラズマの温度を下げる(クールプラズマ)ことで、Ar 等に由来する干渉イオンの影響を低減することができ、感度向上が期待できます。出力を下げる、サンプリング深さを遠ざける、希釈ガスを導入する(ICPMS-2040/2... 詳細表示
- No:12571
- 公開日時:2026/10/01 13:35
- 更新日時:2026/10/01 13:44
- カテゴリー: ICP質量分析計(ICP-MS)
-
塩濃度が 200 ppm 程度になるまで希釈してからICP-MSに導入してください。 マトリクス濃度が高いと分析への影響が大きくなります。 サンプリング深さを遠ざける、ペリスタルティックポンプ回転数を減らすことで、一般的に感度は落ちますが、マトリクスによる影響を軽減できます。 また、Ni製のスキマーコーンに... 詳細表示
- No:12573
- 公開日時:2026/10/01 14:13
- カテゴリー: ICP質量分析計(ICP-MS)
- ウィザードFAQ
-
有機物を多量に含む試料は、干渉や導入経路の汚染などのトラブルにつながります。 液体試料であっても、一般にマイクロウェーブなどを用いた酸分解で有機物を除去、あるいは有機物の影響が十分小さくなるまで希釈して測定することを推奨します。 前処理を行った後も有機物が残っていると干渉の原因となり、正しい定量値が得られない... 詳細表示
- No:12576
- 公開日時:2026/10/01 14:23
- 更新日時:2026/10/01 15:07
- カテゴリー: ICP質量分析計(ICP-MS)
13件中 11 - 13 件を表示
本サイトはPKSHA Technology社のシステム"PKSHA FAQ"を利用しています。