よくあるご質問（FAQ）
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『 元素分析 』 内のFAQ
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めっき厚をEDXで測ることは可能です。 定量計算方法は検量線法と薄膜FP法の2種類があります。 多層膜のめっき厚測定の場合、薄膜FP法の方が適しています。 めっき厚測定を⾏うには以下の2つの点を満たしている必要があります。 1) 試料の層の数、各層の元素情報が分かっている。 2) 分析径(コリメータ径)... 詳細表示
- No：5713
- 公開日時：2021/04/28 13:59
- カテゴリー： エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置(EDX)
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⾼濃度のSn水溶液を蛍光X線で測定する場合、自己吸収という現象により、含有量が⾼くなっても蛍光X線の強度が上がりにくくなる場合があります。 その場合、水溶液の希釈や分析線の変更で対処します。 詳細表示
- No：5711
- 公開日時：2021/04/28 13:57
- カテゴリー： エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置(EDX)
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蛍光X線の分析深さは、試料の主成分、測定元素(分析線)によって変化します。 ・主成分が軽元素ほど深く、重元素ほど浅くなります。 ・測定元素が重元素(分析線が⾼エネルギー)ほど深く、軽元素(分析線が低エネルギー)ほど浅くなります。 詳細表示
- No：5709
- 公開日時：2021/04/28 13:56
- カテゴリー： エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置(EDX)
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簡単分析の結果にでてくる値はwt%です。 atom%の定量計算も可能です。 定量モードでは分析グループで単位を指定することで分析前に設定できます。 定性定量モードでは、測定後にデータを再計算することでatom%の結果を得ることができます。 詳細表示
- No：5707
- 公開日時：2021/04/28 13:55
- 更新日時：2024/02/28 13:47
- カテゴリー： エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置(EDX)
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・強い磁気を帯びた試料は測定できません。 もし、強い磁気を帯びた試料を測定するとX線管球に影響を及ぼします。 ・試料から7cm離れた場所で磁力が20ガウス以下の場合には測定可能です。 ・可能な場合は、他の試料と同様にRoHS分析条件で分析してください。 ・ただし、めっきが施されている試料の場合、めっきと磁... 詳細表示
- No：5705
- 公開日時：2021/04/28 13:53
- 更新日時：2022/09/20 13:57
- カテゴリー： エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置(EDX)
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(EDX) Brを大量に含有する樹脂中のRoHS分析で、Hg検出
・BrKαESCピークの影響で、Hgが検出されたと考えます。 HgLα:9.99keV、BrKαESC:10.16keV ・EDXの場合、高強度のピークが観測されると、検出器由来のピーク(SUM、ESC)が観測され、そのピークが目的元素のピークを妨害する可能性があります。 詳細表示
- No：5703
- 公開日時：2021/04/28 13:52
- カテゴリー： エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置(EDX)
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プロファイルを見てピークを確認してください。 ・PbLα(10.55keV)とPbLβ1(12.62keV)のピーク強度比を確認する。 PbLα:PbLβ1≒1:1 (通常) ・PbLαPbLβ1強度の場合 妨害元素が含まれている可能性があります。 よくある例 PbLα>PbLβ1:As(Kα:... 詳細表示
- No：5700
- 公開日時：2021/04/28 13:48
- 更新日時：2021/04/28 13:50
- カテゴリー： エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置(EDX)
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0ppmにおいて、X線強度のばらつきが、平均強度以下の場合にマイナスの値となります。 マイナスの値は、定量値0ppmとして扱います。 詳細表示
- No：5698
- 公開日時：2021/04/28 13:47
- カテゴリー： エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置(EDX)
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・どの層から発生した蛍光X線かを特定することはできないため、すべての層が未知の場合は、分析できません。 ・未知層は1つ、残りの層は既知(膜厚・組成とも)の場合は、既知層を固定値入力することで、分析できる可能性があります。 詳細表示
- No：5696
- 公開日時：2021/04/28 13:45
- カテゴリー： エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置(EDX)
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元素によって、分析(脱出)深さが異なるため、一概に申し上げにくいところもありますが、目安としては、 ・厚膜:数μm～数十μm ・薄膜:0.数nm～数nm 詳細表示
- No：5694
- 公開日時：2021/04/28 13:43
- カテゴリー： エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置(EDX)
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