マトリクス濃度の小さい試料中では、一族元素（Li、Na、K など）、二族元素（Ca、Mg など）は、プラズマの温度を下げる（クールプラズマ）ことで、Ar 等に由来する干渉イオンの影響を低減することができ、感度向上が期待できます。出力を下げる、サンプリング深さを遠ざける、希釈ガスを導入する（ICPMS-2040/2050のみ）などを推奨します。

＜条件例＞
高周波出力：0.8 kW
希釈ガス：0.7 L/min
サンプリング深さ：10 mm以上（キャリアガス流量に応じて調整してください）

ただし、イオン化干渉の影響を受けやすくなるため、添加回収試験でマトリクスの影響がないか確認してください。また、一部の元素で酸化物など多原子イオンの生成が促進されることがあるため、スペクトル干渉がないか確認してください。

Ca、K、Mg は、ICPMS-2050をお使いの場合、H₂リアクションを使うことで感度の向上が期待できます。
³⁹Kを測定する場合、Clの多い試料では³⁷Cl¹H₂など新たにスペクトル干渉が発生する場合があるため注意してください。

また、Na、K、Ca、Mg などは環境から汚染しやすいので注意してください。