よくあるご質問（FAQ）

(LCMS) ESI PEEKチューブのトラブル確認方法

カラムからの出口やESI プローブのPEEK チューブが汚染することでサンプルの吸着が発生し、感度低下、ピーク形状悪化の症状が発生します。 «確認» 全体的な感度低下。なお、PEEK チューブにつまりが生じると送液圧力が高くなります。なお、汚染が激しくなると、ピーク形状の悪化(ピーク広がり)の症状が出る場... 詳細表示

(LCMS) オリフィスのトラブル確認方法

オリフィスの汚染によりサンプルの吸着、イオン化阻害が発生します。 «確認» 全体的な感度低下。なお、異物付着でつまりとなる場合はPG 真空度で確認できます。PG 値が小さくなり、DL を交換しても改善しない場合、オリフィスにつまりが生じている可能性が高いです。 «処置» 端面を目の細かい紙やすりで... 詳細表示

(LCMS) ブロックヒータ・サンプリングコーンのトラブル確認方法

ブロックヒータ・サンプリングコーン周辺が汚染するとサンプルの吸着や不純物イオンによるイオン化阻害が発生します。また、イオン化電流が不安定となりノイズの要因となる場合もあります。 《確認》 全体的な感度低下、バックグランド上昇。 《処置》 ヒータフランジを取り外した後、ブロックヒータ周辺を全体的にふ... 詳細表示

(LCMS) ESI プローブ・ノズルのトラブル確認方法

ESI プローブのイオン化部分の汚染は、イオン化効率の低下や異物付着によるスプレー状態の悪化、につながります。 «確認» 全体的な感度低下、バックグランド上昇。 «処置» ESIプローブ先端部の状態確認、ノズル部に異物付着が無いか確認し、ふき取りによりクリーニングを行います。 また、ESIキ... 詳細表示

(LCMS) ESI キャピラリのトラブル確認方法

ESI キャピラリ内部の汚染により、サンプルの吸着や高電圧が適切に印加されない等が原因により、生成されるイオン量が減少します。 《確認》 ESI キャピラリのつまりは送液圧力の増加により確認ができます。 ESI プローブへつながるPEEK チューブを取り外し、圧力が下がればESI キャピラリつまりの可能... 詳細表示

(LCMS) DLトラブルの確認方法

DL パイプ内の汚染により、脱溶媒(イオン化)の悪化、イオンの透過率の低下が起きます。DL につまりが起きると、全体的な感度低下が見られます。ただし、ただし、つまりが無くても、成分によっては感度低下がみられる場合があります。 《確認》 DL の汚染・つまりは、PG 値(真空度)が目安になります。装置モニタ... 詳細表示

(LCMS) レンズ系トラブルの確認方法

汚染することで最適な電圧が印可されなくなり、イオンの透過が悪くなる場合があります。特にマルチポール出口レンズが汚染することでチャージアップが発生し、イオン透過を阻害し、大きく感度低下が発生します。 «確認» 低分子成分の感度低下が特に大きくないか確認して下さい。 レンズの汚染は低質量側よりはじまり、徐々... 詳細表示

(LCMS) チューニングトラブルの確認方法

オートチューニングのみで感度低下が解消する場合があります。オートチューニングでは、チューニング条件で設定された半値幅(LCMS-8040: 0.6、LCMS-8050/8060: 0.7)に自動調整されますが、その値より小さくなればなるほど(細くなればなる程)シグナル強度は低下します。 (逆に太くなればシグナル... 詳細表示

(LCMS) 再現性不良

要因を確認して処置を行ってください。(以下の順で確認してください) 1. レンズを洗浄する。トラブル確認方法はこちら 2. DL 交換・(洗浄)を行う。トラブル確認方法はこちら 3. ESI キャピラリを交換する。トラブル確認方法はこちら 4. ESI プローブ(ノズル)を洗浄する。トラブル確認方法は... 詳細表示

(LCMS) バックグランドが高い・ノイズが大きい

要因を確認して処置を行ってください。(以下の順で確認してください) 1. レンズを洗浄する。トラブル確認方法はこちら 2. DL 交換・洗浄を行う。トラブル確認方法はこちら 3. ESI キャピラリを交換する。トラブル確認方法はこちら 4. ホルダ内を洗浄する。 5. LC 流路を洗浄する。 6.... 詳細表示