(1)雰囲気を真空で分析してください。 軽元素の感度が向上します (2)管電圧を下げて分析してください。 Cuの蛍光X線の発生が抑えられ、軽元素の強度が高くなります。 詳細表示
試料に軽元素を含む場合は、定量値に問題があります。 ・軽元素の蛍光X線は、エネルギーが弱いため、フィルムへの吸収が無視できない程、強度が減衰します。 ・この減衰を考慮に入れて定量計算する必要があるため、フィルムの設定を行います。 ・分析後でもフィルムの設定をし、再計算できます。 詳細表示
基本的には、コリメータ径を試料サイズに合わせて測定してください。 均一な試料では、コリメータ径を試料サイズに合わせなくても良い場合があります。 ・定性分析のみを行う(定量しない) ・バランス成分が存在しない試料 (例:金属、ガラスなど) ・内部標準補正が設定された検量線で定量する場合 (例:RoHS分... 詳細表示
可能です。 定量計算に使う分析線(Kα、Lαなど)は、感度係数条件ファイル(sysmetal、sysoxide)で設定されています。感度係数条件ファイルで分析線を変更して再計算を行ってください。 ※sysmetal: 化合物形態「金属」 ※sysoxide: 化合物形態「酸化物」 詳細表示
FP法を用いた定量計算においては、EDXで検出できない元素[C(炭素)、H(水素)、O(酸素)など]が試料に含有している場合、以下の設定を行い、定量計算します。 ・「固定値入力」 (あらかじめEDXで測定できない成分量を求めておく) ・「バランス」の設定(100%からの残分)を行い、定量計算します。 (注... 詳細表示
蛍光X線分析法は、試料の組成(元素および含有量)が分かれば、蛍光X線発生の原理に基づき、測定条件とファンダメンタルパラメータ(物理定数)を用いて、蛍光X線強度を理論的に計算することができます。 FP法とは、この理論強度計算を利用して、測定強度から組成を求める方法です。 詳細表示
処置1: PCEDX-Navi 画面で、照明量を調整してください。 (EDX-LE):[スクリーニング分析]画面で、照明量を調整してください。 処置2: 試料室への落下防止アクリル板またはカメラミラーが汚れている可能性があります。清掃または部品交換が必要です。 当社営業所/代理店または... 詳細表示
試料の取り出し、装置内部の調整、確認が必要です。 当社営業所/代理店または当社指定のサービス担当店に連絡してください。 詳細表示
(EDX) 試料室ふたが上がりにくい、または、試料室ふたがすぐに下りてくる
調整または部品交換が必要です。 当社営業所/代理店または当社指定のサービス担当店に連絡してください。 詳細表示
装置の電源を切り、プラグを抜いてください。 当社営業所/代理店または当社指定のサービス担当店に連絡してください。 詳細表示
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