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閲覧の多いFAQ

『 エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX) 』 内のFAQ

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  • (EDX) Brを大量に含有する樹脂中のRoHS分析で、Hg検出

    ・BrKαESCピークの影響で、Hgが検出されたと考えます。 HgLα:9.99keV、BrKαESC:10.16keV ・EDXの場合、高強度のピークが観測されると、検出器由来のピーク(SUM、ESC)が観測され、そのピークが目的元素のピークを妨害する可能性があります。 詳細表示

    • No:5703
    • 公開日時:2021/04/28 13:52
  • (EDX) PbLαとPbLβ1の定量値が大きくずれている

    プロファイルを見てピークを確認してください。 ・PbLα(10.55keV)とPbLβ1(12.62keV)のピーク強度比を確認する。 PbLα:PbLβ1≒1:1 (通常) ・PbLαPbLβ1強度の場合 妨害元素が含まれている可能性があります。 よくある例 PbLα>PbLβ1:As(Kα:... 詳細表示

    • No:5700
    • 公開日時:2021/04/28 13:48
    • 更新日時:2021/04/28 13:50
  • (EDX) 定量分析でマイナスの定量値表示

    0ppmにおいて、X線強度のばらつきが、平均強度以下の場合にマイナスの値となります。 マイナスの値は、定量値0ppmとして扱います。 詳細表示

    • No:5698
    • 公開日時:2021/04/28 13:47
  • (EDX) めっき膜厚測定(複数層)

    ・どの層から発生した蛍光X線かを特定することはできないため、すべての層が未知の場合は、分析できません。 ・未知層は1つ、残りの層は既知(膜厚・組成とも)の場合は、既知層を固定値入力することで、分析できる可能性があります。 詳細表示

    • No:5696
    • 公開日時:2021/04/28 13:45
  • (EDX) めっき膜厚測定の厚さ

    元素によって、分析(脱出)深さが異なるため、一概に申し上げにくいところもありますが、目安としては、 ・厚膜:数μm~数十μm ・薄膜:0.数nm~数nm 詳細表示

    • No:5694
    • 公開日時:2021/04/28 13:43
  • (EDX) ピークは検出されるが、点線ばかりで元素が同定されない

    ・プロファイルより、全体的にエネルギー軸がずれています。 ・装置校正を行ってください。 詳細表示

    • No:5692
    • 公開日時:2021/04/28 13:42
  • (EDX) 標準試料分析で、標準値から大きくずれた

    ドリフト補正は行ってますか? 数年前の検量線を使用している場合は、引き直した方が良いでしょう。 詳細表示

    • No:5690
    • 公開日時:2021/04/28 13:40
  • (EDX) EDXで、PBBやPBDEの判別は可能ですか?

    ・EDXで化合物の判別はできません。総Br量としてスクリーニング分析します。 ・総Br量でNGとなった試料は化合物を判別するために、別の装置で分析を行います。(例)Py-GC/MS法など PBBとPBDE PBB: ポリ臭化ビフェニル: C12H(10−n)Brn (1≦n≦10) PBDE:ポリ... 詳細表示

    • No:5688
    • 公開日時:2021/04/28 13:37
  • (EDX) 定量プロファイルのKaとKbの意味

    スペクトル線の名前です。1つの元素から複数種が発生します。 装置の表記:一般的な表記(シーグハーン表記) FeKa: FeKα FeKb: FeKβ FeLa: FeLα FeLb1: FeLβ1 詳細表示

    • No:5686
    • 公開日時:2021/04/28 13:35
    • 更新日時:2021/05/20 08:50
  • (EDX) 樹脂膜中のセラミックス板試料分析

    反対面の樹脂部まで、分析できていません。 (1)セラミックスが間に入るため、反対面の樹脂からのX線強度は大幅に減衰することから、正確な分析はできません。 反対面の樹脂からどの程度の蛍光X線が検出されるかは理論強度計算から知ることができます。 (2)RoHS分析について、層構造になった試料を分析した場合、Cd... 詳細表示

    • No:5684
    • 公開日時:2021/04/28 13:32

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