よくあるご質問(FAQ)

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『 エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX) 』 内のFAQ

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  • (EDX) めっき膜厚測定の厚さ

    元素によって、分析(脱出)深さが異なるため、一概に申し上げにくいところもありますが、目安としては、 ・厚膜:数μm~数十μm ・薄膜:0.数nm~数nm 詳細表示

    • No:5694
    • 公開日時:2021/04/28 13:43
  • (EDX) ピークは検出されるが、点線ばかりで元素が同定されない

    ・プロファイルより、全体的にエネルギー軸がずれています。 ・装置校正を行ってください。 詳細表示

    • No:5692
    • 公開日時:2021/04/28 13:42
  • (EDX) 標準試料分析で、標準値から大きくずれた

    ドリフト補正は行ってますか? 数年前の検量線を使用している場合は、引き直した方が良いでしょう。 詳細表示

    • No:5690
    • 公開日時:2021/04/28 13:40
  • (EDX) EDXで、PBBやPBDEの判別は可能ですか?

    ・EDXで化合物の判別はできません。総Br量としてスクリーニング分析します。 ・総Br量でNGとなった試料は化合物を判別するために、別の装置で分析を行います。(例)Py-GC/MS法など PBBとPBDE PBB: ポリ臭化ビフェニル: C12H(10−n)Brn (1≦n≦10) PBDE:ポリ... 詳細表示

    • No:5688
    • 公開日時:2021/04/28 13:37
  • (EDX) 定量プロファイルのKaとKbの意味

    スペクトル線の名前です。1つの元素から複数種が発生します。 装置の表記:一般的な表記(シーグハーン表記) FeKa: FeKα FeKb: FeKβ FeLa: FeLα FeLb1: FeLβ1 詳細表示

    • No:5686
    • 公開日時:2021/04/28 13:35
    • 更新日時:2021/05/20 08:50
  • (EDX) 樹脂膜中のセラミックス板試料分析

    反対面の樹脂部まで、分析できていません。 (1)セラミックスが間に入るため、反対面の樹脂からのX線強度は大幅に減衰することから、正確な分析はできません。 反対面の樹脂からどの程度の蛍光X線が検出されるかは理論強度計算から知ることができます。 (2)RoHS分析について、層構造になった試料を分析した場合、Cd... 詳細表示

    • No:5684
    • 公開日時:2021/04/28 13:32
  • (EDX) マイラーフィルムとMg分析

    ・マイラーフィルムを使用するとMgの強度は著しく低下します。 ・ポリプロピレンフィルムを使用するか、加圧成型したブリケットを分析して下さい。 詳細表示

    • No:5682
    • 公開日時:2021/04/28 13:31
  • (EDX) 粉末試料の厚み

    微量用試料容器を使用してください。試料の量は底面から5mm以上あれば十分な厚さです。 5mm以下の場合は、薄膜FP法で定量計算してください。 詳細表示

    • No:5680
    • 公開日時:2021/04/28 13:30
  • (EDX) 水溶液中のNa分析(He置換測定ユニットなし)

    点滴ろ紙法で分析してください。 点滴ろ紙法とは、液体をろ紙に滴下、乾燥後、分析する方法です。 真空雰囲気下で測定できるため、Naを感度良く分析できます。 詳細表示

    • No:5678
    • 公開日時:2021/04/28 13:28
  • (EDX) 簡単分析におけるCl検出

    X線管球由来のRhLα線とClKα線が重なるため、「簡単分析」条件では微量のClを検出することはできません。 「S-K」チャンネルを追加した条件で分析を行うことでClの検出が可能です。 詳細表示

    • No:5676
    • 公開日時:2021/04/28 13:27

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