FTIR用ソフトLabSolutions IRおよび赤外顕微鏡用ソフトAMsolutionでは、「ピーク高さ」はピークトップの絶対値を示します。ピーク面積も下図の面積A（薄青）と面積B（薄橙）の和で定義されます。

一方、「補正高さ（補正面積）」はベースラインからの高さ（面積）を示します。
「ピーク検出」の機能を用いれば、縦軸値の増減からピークトップとその両脇のベース位置をアルゴリズムが探し、ピーク位置、ベース（H、高波数側）、ベース（L、低波数側）が自動で登録され、ピーク高さ、面積、補正高さ、補正面積を算出可能です。

成分の濃度や官能基の量を定量する場合、Lambert–Beer則に基づき吸光度でピーク強度を評価しますが、その際、ベースラインの影響を抑えるために、「補正高さ」や「補正面積」を用いることが推奨されます。
「ピーク高さ（面積）」だと、注目成分の濃度以外の要因で変化する恐れがあります。例えば、注目ピークの隣に他成分のピークがある場合、その裾が重なって結果に影響を与えることがあります。他にも散乱など他の要因によってベースラインの上下へのシフトや傾きなどが起こる可能性もあります。